科目: 來(lái)源:哈爾濱 題型:單選題
A.它們都是采用控制變量的研究方法 |
B.它們的實(shí)驗(yàn)電路在教科書(shū)中是相同的 |
C.前者多次測(cè)量的目的是分析多組數(shù)據(jù),得出電流跟電阻的關(guān)系 |
D.后者多次測(cè)量的目的是取電阻的平均值,減小誤差 |
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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題
A.該物體的真實(shí)長(zhǎng)度是不定的 |
B.這四次測(cè)量結(jié)果都是不可靠的 |
C.測(cè)量不可避免地有誤差 |
D.測(cè)量次數(shù)多了反而得不到正確結(jié)果 |
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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題
A.采用正確測(cè)量方法 |
B.只要選擇精密的測(cè)量工具 |
C.只要多次測(cè)量求其平均值 |
D.既選擇精密的測(cè)量工具,又多次求其平均值 |
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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題
A.測(cè)量中的誤差和錯(cuò)誤都是可以避免的 |
B.測(cè)量中的誤差和錯(cuò)誤都是不可避免的 |
C.測(cè)量中的誤差是由于未遵守操作規(guī)則而引起的 |
D.改進(jìn)實(shí)驗(yàn)方法,選用精密的測(cè)量工具,可以減小誤差 |
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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題
A.只與測(cè)量工具有關(guān) |
B.只與測(cè)量人有關(guān) |
C.與測(cè)量工具和測(cè)量人都有關(guān) |
D.與被測(cè)物體有關(guān) |
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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題
A.25.833cm | B.25.82cm | C.25.83cm | D.25.80cm |
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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題
A.誤差可能是由于測(cè)量方法不夠完善引起的 |
B.誤差可能是由于測(cè)量工具不夠精密引起的 |
C.用精密的測(cè)量工具認(rèn)真細(xì)致地測(cè)量,可以避免誤差 |
D.誤差是不可避免的,但可減小 |
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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題
A.選擇精密儀器測(cè)量可以避免誤差 |
B.兩次測(cè)量值之間的差異叫做誤差 |
C.多次測(cè)量取平均值可以減少誤差 |
D.只要正確做實(shí)驗(yàn)就不會(huì)產(chǎn)生誤差 |
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科目: 來(lái)源:不詳 題型:單選題
A.測(cè)量值與真實(shí)值之間的差異 |
B.誤差和錯(cuò)誤一樣,都是可以避免的 |
C.測(cè)量工具越精密,實(shí)驗(yàn)方法越合理,誤差就越小 |
D.用多次測(cè)量求平均值的辦法,可以減小誤差 |
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科目: 來(lái)源:江都市一模 題型:問(wèn)答題
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