在測定硫酸銅結(jié)晶水的實(shí)驗(yàn)操作中:

1)加熱前應(yīng)將晶體放在________中研碎,加熱是放在________中進(jìn)行的,加熱失水后,應(yīng)放在中冷卻。

2)判斷是否完全失去結(jié)晶水的方法是________。

3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作________次。

4)下面是某學(xué)生的一次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),完成計(jì)算,填入表的空格中。

坩堝質(zhì)量           11.7g

坩堝與晶體總質(zhì)量       22.7g

加熱后坩堝與固體總質(zhì)量   18.6g

測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù)    

誤差(偏高或偏低)    

5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是下列各點(diǎn)中的________所造成的(填A(yù)、B、C、D)。

A.硫酸銅晶體中含不揮發(fā)性雜質(zhì)

B.加熱過程中有晶體濺失

C.實(shí)驗(yàn)前晶體表面潮濕存水

D.最后兩次稱量質(zhì)量相差較大

 

答案:
解析:

解題思路:(1)只要熟記實(shí)驗(yàn)過程以及相關(guān)儀器的用途即可作答。

(2)不能僅憑感官去判斷結(jié)晶水是否完全失去,而應(yīng)定量測定。由于托盤天平的精度僅為0.1g,即0.1g的稱量誤差是允許的,若兩次加熱稱量的差值超過0.1g,說明上一次加熱不充分,尚需再行“加熱—冷卻—稱量”的操作,若已稱不出明顯的質(zhì)量變化(即兩次稱量差值小于0.1g),說明已加熱失水完全。

(3)在整個(gè)實(shí)驗(yàn)過程中,最少應(yīng)稱量:坩堝的凈質(zhì)量、加入樣品后的總質(zhì)量、第一次加熱冷卻后坩堝及試樣的總質(zhì)量、第二次加熱冷卻后坩堝及試樣的總質(zhì)量。

(4)依據(jù)表中數(shù)據(jù)得知:m(晶體)=22.7g-11.7g=11g

m(結(jié)晶水)=22.7g-18.6g=4.1g.

即CuSO4nH2O中含有5.3個(gè)結(jié)晶水,比CuSO4·5H2O的偏高。

(5)題目中所列產(chǎn)生誤差的可能原因中:A無影響;B中因晶體濺失,導(dǎo)致求出的m(結(jié)晶水)值偏大,故誤差偏高;C中因濕存水的揮發(fā),也導(dǎo)致求出的m(結(jié)晶水)值偏大,故誤差也偏高;D顯示加熱時(shí)失水可能不完全,此時(shí)求出的m(結(jié)晶水)值偏小,此時(shí)誤差應(yīng)偏低。

參考答案:(1)研缽,坩堝,干燥器(2)加熱后最后兩次稱量的質(zhì)量差不超過0.1g  (3)4  (4)5.3偏高  (5)BC

 


練習(xí)冊系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目:高中化學(xué) 來源: 題型:058

在測定硫酸銅結(jié)晶水的實(shí)驗(yàn)操作中:

1)加熱前應(yīng)將晶體放在________中研碎,加熱是放在________中進(jìn)行的,加熱失水后,應(yīng)放在中冷卻。

2)判斷是否完全失去結(jié)晶水的方法是________。

3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作________次。

4)下面是某學(xué)生的一次實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),完成計(jì)算,填入表的空格中。

坩堝質(zhì)量           11.7g

坩堝與晶體總質(zhì)量       22.7g

加熱后坩堝與固體總質(zhì)量   18.6g

測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù)    

誤差(偏高或偏低)    

5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是下列各點(diǎn)中的________所造成的(填A(yù)、B、C、D)。

A.硫酸銅晶體中含不揮發(fā)性雜質(zhì)

B.加熱過程中有晶體濺失

C.實(shí)驗(yàn)前晶體表面潮濕存水

D.最后兩次稱量質(zhì)量相差較大

 

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科目:高中化學(xué) 來源: 題型:

在測定硫酸銅結(jié)晶水的實(shí)驗(yàn)操作中:

(1)加熱前應(yīng)將晶體放在       中研碎,加熱是放在中進(jìn)行,加熱失水后,應(yīng)放在       中冷卻。

(2)判斷是否完全失水的方法:                                                 。

(3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作         次。

(4)下面是某學(xué)生一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù),請完成計(jì)算,填入下面的表格中。

坩堝質(zhì)量

坩堝與晶體總質(zhì)量

加熱后坩堝與固體總質(zhì)量

測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù)

11.7 g

22.7 g

18.6 g

 

(5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差偏高的原因可能是。

A.硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)性雜質(zhì)

B.實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水

C.加熱時(shí)有晶體飛濺出去

D.加熱失水后露置在空氣中冷卻

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科目:高中化學(xué) 來源: 題型:

在測定硫酸銅結(jié)晶水的實(shí)驗(yàn)操作中:

(1)加熱前應(yīng)將晶體放在       中研碎,加熱是放在中進(jìn)行,加熱失水后,應(yīng)放在中冷卻。

(2)判斷是否完全失水的方法:                                                 

(3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作         次。

(4)下面是某學(xué)生一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù),請完成計(jì)算,填入下面的表格中。

坩堝質(zhì)量

坩堝與晶體總質(zhì)量

加熱后坩堝與固體總質(zhì)量

測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù)

11.7 g

22.7 g

18.6 g

(5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差偏高的原因可能是。

A.硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)性雜質(zhì)

B.實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水

C.加熱時(shí)有晶體飛濺出去

D.加熱失水后露置在空氣中冷卻

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科目:高中化學(xué) 來源: 題型:

. 在測定硫酸銅結(jié)晶水的實(shí)驗(yàn)操作中:

(1)加熱前應(yīng)將晶體放在__________中研碎,加熱是放在__________中進(jìn)行,加熱失

         水后,應(yīng)放在__________中冷卻。

(2)判斷是否完全失水的方法是______________________________________________。

(3)做此實(shí)驗(yàn),最少應(yīng)進(jìn)行稱量操作_________次。

(4)下面是某學(xué)生一次實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù),請完成計(jì)算,填入下面的表中。

坩堝質(zhì)量

坩堝與晶體總質(zhì)量

加熱后坩堝與固體總質(zhì)量

測得晶體中結(jié)晶水個(gè)數(shù)

11.7g

22.7g

18.6g

(5)這次實(shí)驗(yàn)中產(chǎn)生誤差的原因可能是________(填寫字母)所造成。

A.硫酸銅晶體中含有不揮發(fā)性雜質(zhì)        B.實(shí)驗(yàn)前晶體表面有濕存水

C.加熱時(shí)有晶體飛濺出去                        D.加熱失水后露置在空氣中冷卻

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