在中，為邊中線上的一點(diǎn)，若，則的  （    ）

    A．最大值為8            B．最大值為4    

    C．最小值－4            D．最小值為－8

 已知函數(shù)的導(dǎo)函數(shù)為，則函數(shù)零點(diǎn)的個(gè)數(shù)為 （    ）

    A．0        B．1        C．2        D．3

 （2009年濟(jì)南模擬）已知橢圓（a>b>0）與雙曲線（m>0,n>0）有相同的焦點(diǎn)（-c,0）和（c,0），若c是a、m的等比中項(xiàng)，n²是2m²與c²的等差中項(xiàng)，則橢圓的離心率是              （    ） 

    A．     B．     C．       D．

 （2009年青島模擬）設(shè)集合A={1,2},B={1,2,3}，分別從集合A和B中隨機(jī)取一個(gè)數(shù)a和b，確定平面上的一個(gè)點(diǎn)P（a，b），記“點(diǎn)P（a,b）落在直線x+y=n上”為事件C_n（2≤n≤5,n∈N）,若事件C_n的概率最大，則n的所有可能值為     （    ）

    A．3            B．4            C．2和5            D．3和4

 （2009年天津模擬）設(shè)a=（a₁，a₂）,b=（b₁,b₂）．定義一種向量積

．已知，點(diǎn)P（x,y）在y=sinx的圖象上運(yùn)動,點(diǎn)Q在y=f（x）的圖象上運(yùn)動，且滿足（其中O為坐標(biāo)原點(diǎn)），則y=f（x）的最大值A(chǔ)及最小正周期T分別為      （    ）

    A．2,        B．2,4            C．           D．

 已知x,y∈Z,n∈N^*，設(shè)f（n）是不等式組表示的平面區(qū)域內(nèi)可行解的個(gè)數(shù)，則f（1）=       ；f（2） =       ；f （n） =       ．

 下列命題： 

①G²=ab是三個(gè)數(shù)a、G、b成等比數(shù)列的充要條件；

②若函數(shù)y=f（x）對任意實(shí)數(shù)x都滿足f（x+2）=-f（x），則f（x）是周期函數(shù)；

③對于命題,則；

④直線與圓C：x²＋y²=a（a>0）相離．

其中不正確命題的序號為       （把你認(rèn)為不正確的命題序號都填上）．

 在實(shí)數(shù)集R中定義一種運(yùn)算“*”，具有下列性質(zhì)： 

①對任意,b∈R, *b=b*； 

②對任意∈R, *0=； 

③對任意,b∈R, （*b）*c=c*（b）+（*c）+（b*c）-2c,

則1*2=       ；函數(shù)x*（x>0）的最小值為        ．

在上述統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)的分析中，一部分計(jì)算見如圖所示的程序框圖（其中是這8個(gè)數(shù)據(jù)的平均數(shù)），則輸出的的值是____．

某工廠對200個(gè)電子元件的使用壽命進(jìn)行檢查，按照使用壽命（單位：h），可以把這批電子元件分成第一組［100，200］，第二組（200，300］，第三組（300，400］，第四組（400，500］，第五組（500，600］，第六組（600,700］，由于工作不慎將部分?jǐn)?shù)據(jù)丟失，現(xiàn)有以下圖表．

   （1）求圖2中的A及表格中的B,C,D,E,F,G,H,I的值；

   （2）求上圖中陰影部分的面積；

   （3）若電子元件的使用時(shí)間超過300 h，則為合格產(chǎn)品，求這批電子元件合格的概率．