9分)在做測量電源電動勢E和內(nèi)阻r的實(shí)驗(yàn)時,提供的器材是:待測電源一個,內(nèi)阻為RV的電壓表一個(量程略大于電源的電動勢),電阻箱一個,開關(guān)一個,導(dǎo)線若干。為了測量得更加準(zhǔn)確,多次改變電阻箱的電阻R,讀出電壓表的相應(yīng)示數(shù)U,以為縱坐標(biāo),R為橫坐標(biāo),畫出R的關(guān)系圖象,如圖所示。由圖象可得到直線在縱軸上的截距為m,直線的斜率為k,試根據(jù)以上信息

(1)在虛線框內(nèi)畫出實(shí)驗(yàn)電路圖。

(2)寫出E、r的表達(dá)式,E= ___________ ;r=_______________

 

 

【答案】

電路圖如右圖所示?? (3分) ? ?? (3分)? ? (3分)

【解析】

試題分析:(1)由題意知電壓表不是理想電壓表不是理想電壓表,電路圖如圖所示

2)根據(jù)閉合電路的歐姆定律,整理得,斜率得電動勢;截距整理得:

考點(diǎn):本題考查測量電源電動勢和內(nèi)阻

 

練習(xí)冊系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目:高中物理 來源: 題型:

在做測量電源電動勢E和內(nèi)阻r的實(shí)驗(yàn)時,提供的器材有:待測電源一個、理想電壓表一個(量程大于電源電動勢)、電阻箱一個(電阻箱的讀數(shù)為R)、電鍵一個、導(dǎo)線若干.
(1)根據(jù)提供的器材設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)電路并在圖(a)上連接實(shí)物圖.
(2)如圖(b)所示的直角坐標(biāo)系,橫軸“?”對應(yīng)的物理量應(yīng)是
 

(3)為測量更準(zhǔn)確,多次改變電阻箱的電阻R,讀出電壓表相應(yīng)的示數(shù)U,在直角坐標(biāo)系中畫出某種關(guān)系圖象,該圖象為一條直線,如圖(b)所示.由圖象得到直線在縱軸的截距為m、斜率為k,請寫出E、r的表達(dá)式:E=
 
,r=
 

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科目:高中物理 來源: 題型:

在做測量電源電動勢E和內(nèi)阻r的實(shí)驗(yàn)時,提供的器材是:待測電源一個,內(nèi)阻為RV的電壓表一個(量程大于電源的電動勢),電阻箱一個,開關(guān)一個,導(dǎo)線若干.為了測量得更加準(zhǔn)確,多次改變電阻箱的電阻R,讀出電壓表的相應(yīng)示數(shù)U,以
1
U
為縱坐標(biāo),R為橫坐標(biāo),畫出
1
U
與R的關(guān)系圖象,如圖所示.由圖象可得到直線在縱軸上的截距為m,直線的斜率為k,試根據(jù)以上信息
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①在虛線框內(nèi)畫出實(shí)驗(yàn)電路圖.
②寫出E、r的表達(dá)式,E=
 
,r=
 

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科目:高中物理 來源: 題型:

、(8分)在做測量電源電動勢E和內(nèi)阻r的實(shí)驗(yàn)時,提供的器材是:待測電源一個,電壓表(內(nèi)阻很大,量程大于電源的電動勢)一個,電阻箱一個,開關(guān)一個,導(dǎo)線若干。

 

 

 

 

 

 


為了測量得更加準(zhǔn)確,多次改變電阻箱的電阻R,讀出電壓表的相應(yīng)示數(shù)U,以為縱坐標(biāo),畫出的關(guān)系圖象(該圖象為一直線)如圖所示。由圖象可得到直線在縱軸上的截距為m,直線的斜率為k。

試根據(jù)以上信息:

(1)在虛線框內(nèi)畫出實(shí)驗(yàn)電路圖。

(2)寫出E、r的表達(dá)式,E=           ,r =           。

(3)寫一條造成本實(shí)驗(yàn)有系統(tǒng)誤差的原因:                                 。

 

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科目:高中物理 來源:2011-2012學(xué)年江西省豐城中學(xué)高二年級期末考試物理卷 題型:實(shí)驗(yàn)題

、(8分)在做測量電源電動勢E和內(nèi)阻r的實(shí)驗(yàn)時,提供的器材是:待測電源一個,電壓表(內(nèi)阻很大,量程大于電源的電動勢)一個,電阻箱一個,開關(guān)一個,導(dǎo)線若干。

 
為了測量得更加準(zhǔn)確,多次改變電阻箱的電阻R,讀出電壓表的相應(yīng)示數(shù)U,以為縱坐標(biāo),畫出的關(guān)系圖象(該圖象為一直線)如圖所示。由圖象可得到直線在縱軸上的截距為m,直線的斜率為k。
試根據(jù)以上信息:
(1)在虛線框內(nèi)畫出實(shí)驗(yàn)電路圖。
(2)寫出E、r的表達(dá)式,E=           ,r =           。
(3)寫一條造成本實(shí)驗(yàn)有系統(tǒng)誤差的原因:                                 。

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