質(zhì)譜儀是測(cè)帶電粒子質(zhì)量和分;析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計(jì)重力)經(jīng)同一電場(chǎng)加速后垂直進(jìn)入同一勻強(qiáng)磁場(chǎng)做圓周運(yùn)動(dòng),然后利用相關(guān)規(guī)律計(jì)算出帶電粒子的質(zhì)量.其工作原理如圖所示,虛線為某粒子的運(yùn)動(dòng)軌跡,由圖可知( 。
分析:根據(jù)動(dòng)能定理求出粒子進(jìn)入磁場(chǎng)的速度,根據(jù)牛頓第二定律求出軌道半徑,從而得知x與什么因素有關(guān).
解答:解:根據(jù)動(dòng)能定理得,qU=
1
2
mv2,由qvB=m
v2
r
得,r=
2mU
q
B

A、由圖結(jié)合左手定則可知,該電荷帶正電.故A錯(cuò)誤.
B、粒子經(jīng)過(guò)電場(chǎng)要加速,因正電粒子,所以下極板S1比上極板S2電勢(shì)低.故B錯(cuò)誤.
C、若只增大加速電壓U,由上式可知,則半徑r變大,故C正確,
D、若只增大入射粒子的質(zhì)量,q不變,由上式可知,則半徑也變大.故D錯(cuò)誤.
故選C.
點(diǎn)評(píng):解決本題的關(guān)鍵利用動(dòng)能定理和牛頓第二定律求出P到S1的距離,從而得出x與電荷的比荷有關(guān).
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相關(guān)習(xí)題

科目:高中物理 來(lái)源: 題型:

 (2012·長(zhǎng)沙市一中月考)質(zhì)譜儀是測(cè)帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計(jì)重力)經(jīng)同一電場(chǎng)加速后,垂直進(jìn)入同一勻強(qiáng)磁場(chǎng)做圓周運(yùn)動(dòng),然后利用相關(guān)規(guī)律計(jì)算出帶電粒子質(zhì)量.其工作原理如圖所示,虛線為某粒子運(yùn)動(dòng)軌跡,由圖可知(  )

A.此粒子帶負(fù)電

B.下極板S2比上極板S1電勢(shì)高

C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大

D.若只增大入射粒子的質(zhì)量,則半徑r變大

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 (2012·長(zhǎng)沙市一中月考)質(zhì)譜儀是測(cè)帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計(jì)重力)經(jīng)同一電場(chǎng)加速后,垂直進(jìn)入同一勻強(qiáng)磁場(chǎng)做圓周運(yùn)動(dòng),然后利用相關(guān)規(guī)律計(jì)算出帶電粒子質(zhì)量.其工作原理如圖所示,虛線為某粒子運(yùn)動(dòng)軌跡,由圖可知(  )

A.此粒子帶負(fù)電

B.下極板S2比上極板S1電勢(shì)高

C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大

D.若只增大入射粒子的質(zhì)量,則半徑r變大

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質(zhì)譜儀是測(cè)帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的一種儀器,如圖8-2-24所示.它的工作原理是帶電粒子(不計(jì)重力)經(jīng)同一電場(chǎng)加速后,垂直進(jìn)入同一勻強(qiáng)磁場(chǎng)做圓周運(yùn)動(dòng),然后利用相關(guān)規(guī)律計(jì)算出帶電粒子質(zhì)量.圖中虛線為某粒子運(yùn)動(dòng)軌跡,由圖可知                                   (  ).

A.此粒子帶負(fù)電

B.下極板S2比上極板S1電勢(shì)高

C.若只增大加速電壓U,則半徑r變大

D.若只增大入射粒子的質(zhì)量,則半徑r變小

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科目:高中物理 來(lái)源: 題型:

質(zhì)譜儀是測(cè)帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的一種儀器,它的工作原理是帶電粒子(不計(jì)重力)經(jīng)同一電場(chǎng)加速后,垂直進(jìn)入同一勻強(qiáng)磁場(chǎng)做圓周運(yùn)動(dòng),然后利用相關(guān)規(guī)律計(jì)算出帶電粒子質(zhì)量。其工作原理如圖所示,虛線為某粒子軌跡,由圖可知

A.此粒子帶負(fù)電

B.下極板S2比上極板S1電勢(shì)高

C.若只增大加速電壓U值,則半徑r變大

D.若只增大入射粒子的質(zhì)量,則半徑r變小

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