如圖所示是用光學(xué)的方法來(lái)檢查一物體表面光滑程度的裝置,其中A為標(biāo)準(zhǔn)平板,B為被檢查其表面光滑程度的物體,C為單色入射光,如果要說(shuō)明能檢查平面光滑程度的道理,則需要用到的下列光學(xué)概念是( )

A.反射和干涉
B.全反射和干涉
C.反射和衍射
D.全反射和衍射
【答案】分析:根據(jù)常見的光現(xiàn)象產(chǎn)生的原因:反射,干涉、衍射、偏振、全反射等,分析作出選擇.
解答:解:利用A為標(biāo)準(zhǔn)平板的下表面與B為被檢查其上表面進(jìn)行光的反射,從而出現(xiàn)光的干涉現(xiàn)象.由此可以能檢查平面光滑程度.故A正確,BCD錯(cuò)誤;
故選:A
點(diǎn)評(píng):考查光的反射和干涉現(xiàn)象,知道光的干涉的原理與穩(wěn)定的圖樣條件,并掌握標(biāo)準(zhǔn)面與檢查面的區(qū)分.
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(2011?南開區(qū)一模)如圖所示是用光學(xué)的方法來(lái)檢查一物體表面光滑程度的裝置,其中A為標(biāo)準(zhǔn)平板,B為被檢查其表面光滑程度的物體,C為單色入射光,如果要說(shuō)明能檢查平面光滑程度的道理,則需要用到的下列光學(xué)概念是( 。

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如圖所示是用光學(xué)的方法來(lái)檢查一物體表面光滑程度的裝置,其中  A為標(biāo)準(zhǔn)平板,B為被檢查其表面光滑程度的物體,C為單色入射光,如果要說(shuō)明能檢查平面光滑程度的道理,則需要用到的下列光學(xué)概念是

A.反射和干涉   B.全反射和干涉   C.反射和衍射   D.全反射和衍射

 

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如圖所示是用光學(xué)的方法來(lái)檢查一物體表面光滑程度的裝置,其中A為標(biāo)準(zhǔn)平板,B為被檢查其表面光滑程度的物體,C為單色入射光,如果要說(shuō)明能檢查平面光滑程度的道理,則需要用到的下列光學(xué)概念是(  )
A.反射和干涉B.全反射和干涉
C.反射和衍射D.全反射和衍射
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如圖所示是用光學(xué)的方法來(lái)檢查一物體表面光滑程度的裝置,其中A為標(biāo)準(zhǔn)平板,B為被檢查其表面光滑程度的物體,C為單色入射光,如果要說(shuō)明能檢查平面光滑程度的道理,則需要用到的下列光學(xué)概念是( )

A.反射和干涉
B.全反射和干涉
C.反射和衍射
D.全反射和衍射

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