【題目】如圖所示,光滑水平面上有大小相同的A、B兩球在同一直線上運動.兩球質(zhì)量關(guān)系為mA=2mB,規(guī)定向右為正方向,A、B兩球的動量大小均為6 kg·m/s,運動中兩球發(fā)生碰撞,碰撞后A球的動量增量為-4 kg·m/s,則(  )

A. 左方是A球,碰撞后A、B兩球速度大小之比為25

B. 左方是A球,碰撞后A、B兩球速度大小之比為110

C. 右方是A球,碰撞后A、B兩球速度大小之比為110

D. 右方是A球,碰撞后A、B兩球速度大小之比為25

【答案】B

【解析】

光滑水平面上大小相同AB兩球在發(fā)生碰撞,規(guī)定向右為正方向,由動量守恒定律可得:PA=-PB,由于碰后A球的動量增量為負(fù)值,所以右邊不可能是A球的,若是A球則動量的增量應(yīng)該是正值,因此碰后A球的動量為2kgm/s,所以碰后B球的動量是增加的,為10kgm/s。由于兩球質(zhì)量關(guān)系為mA=2mB,那么碰撞后A、B兩球速度大小之比1:10;故B正確A、C、D錯誤。故選B。

練習(xí)冊系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目:高中物理 來源: 題型:

【題目】某空間內(nèi)有高度為d、寬度足夠?qū)、方向水平向左的勻強電場。?dāng)在該空間內(nèi)建立如圖所示的坐標(biāo)系后。在x軸上的P點沿y軸正方向連續(xù)射入相同的帶電粒子(粒子重力不計),由于粒子的入射速率v不同,有的粒子將在電場中直接通過y軸,有的將穿出電場后再通過y軸。設(shè)粒子通過y軸時,離坐標(biāo)原點的距離為h,從Py軸所需的時間為t,則

A. 由題設(shè)條件不能判斷出粒子的帶電性質(zhì)

B. hd的粒子,h不同,粒子在電場中的運動時間t相同

C. 的粒子,h不同,在時間t內(nèi),電場力對粒子做的功不相等

D. 不同h對應(yīng)的粒子,進入電場時的速率v可能相同

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科目:高中物理 來源: 題型:

【題目】如圖甲所示,用一輕質(zhì)繩拴著一質(zhì)量為m的小球,在豎直平面內(nèi)做圓周運動(不計一切阻力),小球運動到最高點時繩對小球的拉力為T,小球在最高點的速度大小為,其圖象如圖乙所示,則( 。

A. 小球過最高點的最小速度為

B. 當(dāng)?shù)氐闹亓铀俣葹?/span>

C. 輕質(zhì)繩長為

D. 當(dāng)v2=c時,輕質(zhì)繩的拉力大小為

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科目:高中物理 來源: 題型:

【題目】靜電場在x軸上的場強Ex的變化關(guān)系如圖所示,x軸正向為場強正方向,帶正電的點電荷沿x軸運動,則點電荷( ).

A. x2x4處電勢能相等

B. x1運動到x3的過程中電勢能增大

C. x1運動到x4的過程中電場力先減小后增大

D. x1運動到x4的過程中電場力先增大后減小

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科目:高中物理 來源: 題型:

【題目】如圖所示,S1、S2是振動情況完全相同的兩個機械波波源,振幅為A,a、b、c三點分別位于S1、S2連線的中垂線上,且ab=bc,某時刻a是兩列波的波峰相遇點,c是兩列波的波谷相遇點,則( 。

A. a處質(zhì)點的位移始終為2A

B. c處質(zhì)點的位移始終為-2A

C. b處質(zhì)點的振幅為0

D. c處質(zhì)點的振幅為2A

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科目:高中物理 來源: 題型:

【題目】如圖為單擺在兩次受迫振動中的共振曲線,則下列說法正確的是(

A. 若兩次受迫振動分別在月球上和地球上進行,且擺長相同,則圖線I表示月球上單擺的共振曲線

B. 若兩次受迫振動是在地球上同一地點進行,則兩次擺長之比ll=254

C. 圖線Ⅱ若是在地面上完成的則該擺擺長約為1 m。(

D. 若擺長均為1 m,則圖線I是在地面上完成的

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科目:高中物理 來源: 題型:

【題目】彈簧振子在光滑水平面上做簡諧運動,把小鋼球從平衡位置向左拉一段距離,放手讓其運動。從小鋼球通過平衡位置開始計時,其振動圖象如圖所示,下列說法正確的是

A. 鋼球的振動周期為1s

B. t0時刻彈簧的形變量為4cm

C. 鋼球振動半個周期,回復(fù)力做功為零

D. 鋼球振動一周期,通過的的路程等于10cm

E. 鋼球振動方程x=5sincm

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科目:高中物理 來源: 題型:

【題目】如圖所示,在第一象限內(nèi)有垂直紙面向里的勻強磁場,一對正、負(fù)電子(正電子質(zhì)量和電量與電子大小相等,電性相反)分別以相同速度沿與x軸成60°角從原點射入磁場,則正、負(fù)電子在磁場中運動時間之比為(

A. 12B. 21C. 1D. 11

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科目:高中物理 來源: 題型:

【題目】光的干涉現(xiàn)象在技術(shù)中有重要應(yīng)用。例如,在磨制各種鏡面或其他精密的光學(xué)平面時,可以用干涉法檢查平面的平整程度。如圖所示,在被測平面上放一個透明的樣板,在樣板的一端墊一個薄片,使樣板的標(biāo)準(zhǔn)平面與被測平面之間形成一個楔形空氣薄層。用單色光從上面照射,在樣板上方向下觀測時可以看到干涉條紋。如果被測表面是平整的,干涉條紋就是一組平行的直線(如圖甲),下列說法正確的是(

A. 這是空氣層的上下兩個表面反射的兩列光波發(fā)生干涉

B. 空氣層厚度相同的地方,兩列波的路程差相同,兩列波疊加時相互加強或相互削弱的情況也相同

C. 如果干涉條紋如圖乙所示發(fā)生彎曲,就表明被測表面彎曲對應(yīng)位置向下凹

D. 如果干涉條紋如圖乙所示發(fā)生彎曲,就表明被測表面彎曲對應(yīng)位置向上凸

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