質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具,它的構(gòu)造原理如圖14所示。從容器A 下方的狹縫s1 不斷地飄入質(zhì)量為m ,電荷量為q 的正離子,經(jīng)電勢差為U 的加速電場加速后,再通過狹縫s2、s3射入磁感應強度為B的勻強磁場,磁場方向垂直紙面向外,正離子的運動方向垂直于磁場區(qū)的界面PQ。最后,正離子打到感光片上,形成垂直于紙面而且平行于狹縫s3的細線。測得細線到狹縫s3的距離為d。
(1)忽略正離子從A出來的初速,試導出正離子質(zhì)量m與d的關(guān)系式。
(2)由于微觀客體的速度一般不為零,不同時刻飛出的正離子的速率有差異,而導致感光片上的細線存在一個寬度,對分析離子的質(zhì)量造成影響。為此常在離子加速后的徑跡s2、s3間加一速度選擇器,如圖15所示。已知速度選擇器的兩板電勢差為U',兩板間距為d',磁場磁感應強度為B',請重新導出正離子質(zhì)量m與d的關(guān)系式。
圖14 圖15
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qB2 | 8U |
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