用伏安法測某電阻的阻值，用安培表的內(nèi)接法測量時(shí)，兩只電表的讀數(shù)分別為3V、3mA；用安培表的外接法測量時(shí)，兩只電表的讀數(shù)分別為2.9V、4mA。則在本次實(shí)驗(yàn)中：電路應(yīng)選擇安培表的       （填“內(nèi)”或“外”）接法，該電阻測量值為         Ω，比這個(gè)電阻的真實(shí)值         （填“偏大”或“偏小”）。

 

 內(nèi)  接法，     1000 Ω，         偏   。  

 

練習(xí)冊系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目：高中物理 來源： 題型：

2007年諾貝爾物理學(xué)獎(jiǎng)授予了兩位發(fā)現(xiàn)“巨磁電阻”效應(yīng)的物理學(xué)家．材料的電阻隨磁場的增加而增大的現(xiàn)象稱為磁阻效應(yīng)，利用這種效應(yīng)可以測量磁感應(yīng)強(qiáng)度．若圖1為某磁敏電阻在室溫下的電阻比值一磁感應(yīng)強(qiáng)度特性曲線，其中RB、R0分別表示有、無磁場時(shí)磁敏電阻的阻值．
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（1）為了測量磁感應(yīng)強(qiáng)度B，需先測量磁敏電阻處于磁場中的電阻值RB，已知無磁場時(shí)阻值R0=150Ω．現(xiàn)將磁敏電阻置入待測磁場中，在室溫下用伏安法測得其兩端的電壓和通過的電流數(shù)據(jù)如下表：
1 2 3 4 5
U（V） 0.45 0.91 1.50 1.78 2.71
I（mA） 0.30 0.60 1.00 1.20 1.80
根據(jù)上表可求出磁敏電阻的測量值RB=
 
Ω，結(jié)合圖中電阻比值一磁感應(yīng)強(qiáng)度特性曲線可知待測磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度B=
 
T．（均保留兩位有效數(shù)字）
（2）請用下列器材設(shè)計(jì)一個(gè)電路：將一小量程的電流表G改裝成一能測量磁感應(yīng)強(qiáng)度的儀表，要求設(shè)計(jì)簡單，操作方便．（環(huán)境溫度一直處在室溫下）
A．磁敏電阻，無磁場時(shí)阻值R0=150Ω
B．電流表G，量程Ig=2mA，內(nèi)阻約50Ω
C．滑動變阻器R，全電阻約1500Ω
D．直流電源E，電動勢E=3V，內(nèi)阻約為1Ω
E．開關(guān)S，導(dǎo)線若干
①在圖2中的虛線框內(nèi)完成實(shí)驗(yàn)電路圖；
②改裝后，電流表表盤上電流刻度要轉(zhuǎn)換成磁感應(yīng)強(qiáng)度B．
若2.0mA處標(biāo)0T，那么1.0mA處標(biāo)
 
T．（保留兩位有效數(shù)字）

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科目：高中物理 來源： 題型：閱讀理解

利用圖示裝置驗(yàn)證運(yùn)動的小球A和靜止的小球B發(fā)生正碰時(shí)動量守恒．已知O點(diǎn)在A球球心的正下方，O'點(diǎn)在B球球心的正下方，P點(diǎn)為先不放B球時(shí)A球自某一高度處滾下時(shí)的落點(diǎn)位置，M點(diǎn)和N點(diǎn)為A和B兩球碰撞后A球和B球的落點(diǎn)位置．那么：

①  A球和B球的質(zhì)量比較，應(yīng)該是A

球的質(zhì)量_________B球的質(zhì)量。

（填“＞”、“＜”或“=”）

②  在此實(shí)驗(yàn)中，如下哪些操作和要求是必要的（       ）（不定項(xiàng)選擇）

A．每次讓A球從斜槽上滑下時(shí)，都必須從固定位置處由靜止釋放；

B．A球運(yùn)動到斜槽末端時(shí)，必須使A、B兩球球心高度相同，且位于同一水平線上，使兩球發(fā)生正碰；

C．必須用秒表測出兩球從相碰后到落地的時(shí)間；

D．固定碰撞實(shí)驗(yàn)器時(shí)，必須使斜槽末端的切線沿水平方向．

③  為了驗(yàn)證動量守恒，計(jì)算時(shí)A球碰前的速度和A、B球碰后的速

度可以分別用_____、______、_____數(shù)值來代表．

（Ⅱ）用伏安法測量某一較大阻值的電阻Rx，為了避免電表內(nèi)

阻的影響造成誤差，采用如圖的實(shí)驗(yàn)電路，其中R為高精度的電阻箱，S為單刀雙擲開關(guān).請完成有關(guān)內(nèi)容：

主要實(shí)驗(yàn)步驟如下：

A. 開關(guān)S撥向1，_____________，使電壓表和電流表有一合適的讀數(shù)U和I.

B. 初步估測電阻Rx的大小.

C. 調(diào)節(jié)電阻箱的阻值為Rx的估測值, 再把開關(guān)S撥向2，微調(diào)電阻箱的阻值，使電壓表的讀數(shù)為U時(shí)電流表的讀數(shù)為_________，讀出此時(shí)電阻箱的阻值R0 .

D．利用測得的數(shù)據(jù)，可得該電阻 _________________.

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科目：高中物理 來源：2012年普通高等學(xué)校招生全國統(tǒng)一考試?yán)砭C物理（北京卷帶解析） 題型：實(shí)驗(yàn)題

在“測定金屬的電阻率”實(shí)驗(yàn)中，所用測量儀器均已校準(zhǔn)，待側(cè)金屬絲接入電路部分的長度約為50cm。
（1）用螺旋測微器測量金屬絲的直徑，其中某一次測量結(jié)果如圖1所示，其讀數(shù)應(yīng)
為       mm（該值接近多次測量的平均值）

（2）用伏安法測金屬絲的電阻Rx。實(shí)驗(yàn)所用器材為：電池阻（電動勢3V，內(nèi)阻約1Ω）、電流表（內(nèi)阻約0.1Ω）、電壓表（內(nèi)阻約3kΩ）、滑動變阻器R（0～20Ω，額定電流2A）、開關(guān)、導(dǎo)線若干。
某小組同學(xué)利用以上器材正確連接好電路，進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測量，記錄數(shù)據(jù)如下：

次數(shù)
1
2
3
4
5
6
7
U/V
0.10
0.30
0.70
1.00
1.50
1.70
2.30
I/A
0.020
0.060
0.160
0.220
0.340
0.460
0.520
由以上實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)可知，他們測量Rx是采用圖2中的      圖（選填“甲”或“乙”）。

（3）圖3是測量Rx的實(shí)驗(yàn)器材實(shí)物圖，圖中已連接了部分導(dǎo)線，滑動變阻器的滑片P置于變阻器的一端，請根據(jù)（2）所選的電路圖，補(bǔ)充完成圖3中實(shí)物間的連線，并使閉合開關(guān)的瞬間，電壓表或電流表不至于被燒壞。

（4）這個(gè)小組的同學(xué)在坐標(biāo)紙上建立U、I坐標(biāo)系，如圖4所示，圖中已標(biāo)出了與測量數(shù)據(jù)對應(yīng)的4個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)。請?jiān)趫D4中標(biāo)出第2、4、6次測量數(shù)據(jù)的坐標(biāo)點(diǎn)，并描繪出U-I圖線，由圖線得到金屬絲的阻值 Rx=       Ω（保留兩位有效數(shù)字）。

（5）根據(jù)以上數(shù)據(jù)可以估算出金屬絲的電阻率約為        （填選項(xiàng)前的符號）。
A．1×Ω·m             B．1×Ω·m    
C．1×Ω·m             D．1×Ω·m
（6）任何實(shí)驗(yàn)測量都存在誤差。本實(shí)驗(yàn)所用測量儀器均已校準(zhǔn)，下列關(guān)于誤差的說法中正確的選項(xiàng)是       （有多個(gè)正確選項(xiàng)）。
A．用螺旋測微器測量金屬直徑時(shí)，由于讀數(shù)引起的誤差屬于系統(tǒng)誤差
B．由于電流表和電壓表內(nèi)阻引起的誤差屬于偶然誤差
C．若將電流表和電壓表的內(nèi)阻計(jì)算在內(nèi)，可以消除由于測量儀表引起的系統(tǒng)誤差
D．用U—I圖像處理數(shù)據(jù)求金屬電阻可以減小偶然誤差

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科目：高中物理 來源：2012年普通高等學(xué)校招生全國統(tǒng)一考試?yán)砭C物理（北京卷解析版） 題型：實(shí)驗(yàn)題

在“測定金屬的電阻率”實(shí)驗(yàn)中，所用測量儀器均已校準(zhǔn)，待側(cè)金屬絲接入電路部分的長度約為50cm。

（1）用螺旋測微器測量金屬絲的直徑，其中某一次測量結(jié)果如圖1所示，其讀數(shù)應(yīng)

為        mm（該值接近多次測量的平均值）

（2）用伏安法測金屬絲的電阻Rx。實(shí)驗(yàn)所用器材為：電池阻（電動勢3V，內(nèi)阻約1Ω）、電流表（內(nèi)阻約0.1Ω）、電壓表（內(nèi)阻約3kΩ）、滑動變阻器R（0～20Ω，額定電流2A）、開關(guān)、導(dǎo)線若干。

某小組同學(xué)利用以上器材正確連接好電路，進(jìn)行實(shí)驗(yàn)測量，記錄數(shù)據(jù)如下：

次數(shù)

1

2

3

4

5

6

7

U/V

0.10

0.30

0.70

1.00

1.50

1.70

2.30

I/A

0.020

0.060

0.160

0.220

0.340

0.460

0.520

由以上實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)可知，他們測量Rx是采用圖2中的       圖（選填“甲”或“乙”）。

（3）圖3是測量Rx的實(shí)驗(yàn)器材實(shí)物圖，圖中已連接了部分導(dǎo)線，滑動變阻器的滑片P置于變阻器的一端，請根據(jù)（2）所選的電路圖，補(bǔ)充完成圖3中實(shí)物間的連線，并使閉合開關(guān)的瞬間，電壓表或電流表不至于被燒壞。

（4）這個(gè)小組的同學(xué)在坐標(biāo)紙上建立U、I坐標(biāo)系，如圖4所示，圖中已標(biāo)出了與測量數(shù)據(jù)對應(yīng)的4個(gè)坐標(biāo)點(diǎn)。請?jiān)趫D4中標(biāo)出第2、4、6次測量數(shù)據(jù)的坐標(biāo)點(diǎn)，并描繪出U-I圖線，由圖線得到金屬絲的阻值 Rx=        Ω（保留兩位有效數(shù)字）。

（5）根據(jù)以上數(shù)據(jù)可以估算出金屬絲的電阻率約為         （填選項(xiàng)前的符號）。

A．1×Ω·m             B．1×Ω·m    

C．1×Ω·m             D．1×Ω·m

（6）任何實(shí)驗(yàn)測量都存在誤差。本實(shí)驗(yàn)所用測量儀器均已校準(zhǔn)，下列關(guān)于誤差的說法中正確的選項(xiàng)是        （有多個(gè)正確選項(xiàng)）。

A．用螺旋測微器測量金屬直徑時(shí)，由于讀數(shù)引起的誤差屬于系統(tǒng)誤差

B．由于電流表和電壓表內(nèi)阻引起的誤差屬于偶然誤差

C．若將電流表和電壓表的內(nèi)阻計(jì)算在內(nèi)，可以消除由于測量儀表引起的系統(tǒng)誤差

D．用U—I圖像處理數(shù)據(jù)求金屬電阻可以減小偶然誤差

 

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科目：高中物理 來源：2012屆廣東省高二第二學(xué)期月考物理卷 題型：實(shí)驗(yàn)題

利用圖示裝置驗(yàn)證運(yùn)動的小球A和靜止的小球B發(fā)生正碰時(shí)動量守恒．已知O點(diǎn)在A球球心的正下方，O'點(diǎn)在B球球心的正下方，P點(diǎn)為先不放B球時(shí)A球自某一高度處滾下時(shí)的落點(diǎn)位置，M點(diǎn)和N點(diǎn)為A和B兩球碰撞后A球和B球的落點(diǎn)位置．那么：

①  A球和B球的質(zhì)量比較，應(yīng)該是A

球的質(zhì)量_________B球的質(zhì)量。

（填“＞”、“＜”或“=”）

②  在此實(shí)驗(yàn)中，如下哪些操作和要求是必要的（       ）（不定項(xiàng)選擇）

A．每次讓A球從斜槽上滑下時(shí)，都必須從固定位置處由靜止釋放；

B．A球運(yùn)動到斜槽末端時(shí)，必須使A、B兩球球心高度相同，且位于同一水平線上，使兩球發(fā)生正碰；

C．必須用秒表測出兩球從相碰后到落地的時(shí)間；

D．固定碰撞實(shí)驗(yàn)器時(shí)，必須使斜槽末端的切線沿水平方向．

③  為了驗(yàn)證動量守恒，計(jì)算時(shí)A球碰前的速度和A、B球碰后的速

度可以分別用_____、______、_____數(shù)值來代表．

（Ⅱ）（9分）用伏安法測量某一較大阻值的電阻Rx，為了避免電表內(nèi)

阻的影響造成誤差，采用如圖的實(shí)驗(yàn)電路，其中R為高精度的電阻箱，S為單刀雙擲開關(guān).請完成有關(guān)內(nèi)容：

主要實(shí)驗(yàn)步驟如下：

A. 開關(guān)S撥向1，_____________，使電壓表和電流表有一合適的讀數(shù)U和I.

B. 初步估測電阻Rx的大小.

C. 調(diào)節(jié)電阻箱的阻值為Rx的估測值, 再把開關(guān)S撥向2，微調(diào)電阻箱的阻值，使電壓表的讀數(shù)為U時(shí)電流表的讀數(shù)為_________，讀出此時(shí)電阻箱的阻值R0 .

D．利用測得的數(shù)據(jù)，可得該電阻 _________________.

 

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