某同學(xué)用某種單色光做雙縫干涉實(shí)驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)條紋太密難以測量，可以采用的改善辦法是

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A．增大雙縫間距

B．增大雙縫到屏的距離

C．增大雙縫到單縫的距離

D．改用波長較短的光(如紫光)作為入射光

練習(xí)冊系列答案
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科目：高中物理 來源： 題型：

某同學(xué)用某種單色光做雙縫干涉實(shí)驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)條紋太密難以測量，可以采用的改善辦法是（　�。�

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科目：高中物理 來源： 題型：閱讀理解

（1）某同學(xué)用某種單色光做雙縫干涉實(shí)驗(yàn)時(shí)，已知雙縫間距離為d，雙縫到毛玻璃屏間距離為L，實(shí)驗(yàn)時(shí)先移動測量頭（如圖A所示）上的手輪，把分劃線對準(zhǔn)靠近最左邊的第1條明條紋中心（如圖D所示），并記下游標(biāo)卡尺的讀數(shù)x1（如圖B所示），然后轉(zhuǎn)動手輪，把分劃線向右邊移動，直到對準(zhǔn)第7條明條紋中心（如圖E所示）并記下游標(biāo)卡尺讀數(shù)x7（如圖C所示）．游標(biāo)卡尺的讀數(shù)x1=
 
mm，游標(biāo)卡尺讀數(shù)x7=
 
mm．計(jì)算實(shí)驗(yàn)中所用單色光波長的表達(dá)式為
 
．
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（2）如圖為“探究碰撞中的不變量”實(shí)驗(yàn)裝置，滑塊A、B靜止在水平氣墊導(dǎo)軌上，兩滑塊間緊壓一輕彈簧，滑塊用繩子連接，繩子燒斷后，兩個(gè)滑塊向相反方向運(yùn)動，輕彈簧掉落．現(xiàn)拍得閃光頻率為10HZ的一組頻閃照片．已知滑塊A、B的質(zhì)量分別為200g、300g．根據(jù)照片記錄的信息可知，A、B離開彈簧后：
①A滑塊動量大小為
 
；
②彈簧彈開后滑塊AB的總動量為
 
；
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（3）某興趣小組的同學(xué)用一個(gè)檸檬做成水果電池．他們猜想此電池內(nèi)阻可能較大，從而設(shè)計(jì)了一個(gè)如圖所示電路來測定該電池的電動勢和內(nèi)電阻．實(shí)驗(yàn)中他們多次改變電阻箱的電阻值，記錄了電阻箱的阻值及對應(yīng)的電流計(jì)示數(shù)，并算出電流的倒數(shù)值，將數(shù)據(jù)填在如下的表格中．
①利用圖象法處理數(shù)據(jù)可以減小實(shí)驗(yàn)誤差，請用恰當(dāng)?shù)淖鲌D方案，在給出的坐標(biāo)紙上作出圖象．
②利用你作出的圖象，可求出該檸檬電池的電動勢為
 
V，若不計(jì)電流計(jì)的電阻，則該電池的內(nèi)阻為
 
Ω．
電阻R
（KΩ）		 電流I
（μ�。�		 電流的倒數(shù)-
1
I
（×10-3μA-1）
10 80 12.50
8.0 98 10.20
6.0 122 8.20
5.0 145 6.90
3.0 225 4.44
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科目：高中物理 來源： 題型：

Ⅰ．某同學(xué)用某種單色光做雙縫干涉實(shí)驗(yàn)時(shí)，已知雙縫間距離為d，雙縫到毛玻璃屏間距離為L，實(shí)驗(yàn)時(shí)先移動測量頭（如圖A所示）上的手輪，把分劃線對準(zhǔn)靠近最左邊的第1條明條紋中心（如圖D所示），并記下游標(biāo)卡尺的讀數(shù)x1（如圖B所示），然后轉(zhuǎn)動手輪，把分劃線向右邊移動，直到對準(zhǔn)第7條明條紋中心（如圖E所示）并記下游標(biāo)卡尺讀數(shù)x7（如圖C所示）．
游標(biāo)卡尺的讀數(shù)x1=
 
mm，游標(biāo)卡尺讀數(shù)x7=
 
mm．
計(jì)算實(shí)驗(yàn)中所用單色光波長的表達(dá)式為λ=
 
．
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Ⅱ．某同學(xué)使用了如下器材：電源E（電動勢12V）；電壓表V（量程為15V，內(nèi)阻約15kΩ）電流表A（量程100mA，內(nèi)阻約10Ω）；滑動變阻器（最大電阻為50Ω）；單刀單擲開關(guān)；導(dǎo)線若干．測出了一個(gè)小燈泡的伏安特性曲線如圖甲所示，已知小燈泡的額定電壓為12V．
①請?jiān)趫D乙的虛線方框中畫出此實(shí)驗(yàn)電路；
②根據(jù)設(shè)計(jì)的電路圖在圖丙的實(shí)物上連線；
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某同學(xué)用某種單色光做雙縫干涉實(shí)驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)條紋太密難以測量，可以采用的改善辦法是(        )

A．增大雙縫間距     

B．增大雙縫到屏的距離

C．增大雙縫到單縫的距離                   

D．改用波長較短的光(如紫光)作為入射光

 

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某同學(xué)用某種單色光做雙縫干涉實(shí)驗(yàn)時(shí)，發(fā)現(xiàn)條紋太密難以測量，可以采用的改善辦法是

     A．增大雙縫間距                      B．增大雙縫到屏的距離

     C．增大雙縫到單縫的距離              D．改用波長較短的光(如紫光)作為入射光

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