質譜儀是一種測定帶電粒子質量和分析同位素的重要工具,它的構造原理如圖所示。離子源S產(chǎn)生質量為m、帶電量為q的某種正離子,離子產(chǎn)生出來時速度很小,可以看作是靜止的。粒子從容器A下方小孔S1飄入電勢差為U的加速電場,然后經(jīng)過小孔S2和S3后沿著與磁場垂直的方向進入磁感應強度為B的勻強磁場中,最后打到照相底片D上。

(1)小孔S1和S2處的電勢比較,哪處的高?在小孔S1和S2處的電勢能,哪處高?如果容器A接地且電勢為0,則小孔S1和S2處的電勢各為多少?(設小孔極小,其電勢和小孔處的電極板的電勢相同)

(2)求粒子進入磁場時的速率和粒子在磁場中運動的軌道半徑。

(3)如果從容器下方的S1小孔飄出的是具有不同的質量的帶電量為q的正離子,那么這些粒子打在照相底片的同一位置,還是不同位置?如果是不同位置,那么質量分別為的粒子在照相底片的排布等間距嗎?寫出說明。

解析:(1)由于電荷量為帶正電的粒子,從容器下方的S1小孔飄入電勢差為U的加速電場,要被加速,S1和S2處的電勢比較,S1處的高,從小孔S1到S2電場力做正功,電勢能減小,所以粒子在小孔S1處的電勢能高于在S2處。如果容器A接地且電勢為0,而小孔S1和S2處的電勢差為U,所以小孔S1和S2處的電勢各為0和-U。

(2)設從容器下方的S1小孔飄出的是具有不同的質量的電荷量為的粒子,到達S2的速度為v,經(jīng)S3進入射入磁場區(qū),根據(jù)能量守恒,有    v=

設粒子在洛倫茲力作用下做勻速圓周運動的半徑為R,由洛倫茲力公式和牛頓定律得:         

(3)在磁場中偏轉距離d=

由于是具有不同的質量的粒子,所以距離d不同,這些粒子打在照相底片的不同位置。從上式可以看出,在磁場中偏轉距離d與質量的平方根成正比,所以質量分別為的粒子在照相底片的排布間距不等。

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科目:高中物理 來源: 題型:

質譜儀是一種測定帶電粒子質量和分析同位素的重要工具,它的構造原理如圖所示,離子源S產(chǎn)生的各種不同正離子束(電量為q,速度可看作為零),經(jīng)加速電場電壓U加速后垂直進入有界勻強磁場,到達記錄它的照相底片P上,設離子在P上的位置到入口處S1的距離為x,不計離子重力,則下列說法正確的是( 。

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質譜儀是一種測定帶電粒子質量和分析同位素的重要工具.它的構造原理如圖所示,離子源S產(chǎn)生帶電量為q的某種正離子,離子射出時的速度很小,可以看作是靜止的,離子經(jīng)過電壓U加速后形成離子束流,然后垂直于磁場方向進入磁感應強度為B的勻強磁場,沿著半圓周運動而到達記錄它的照相底片P上.實驗測得:它在P上的位置到入口處S1的距離為a,離子束流的電流為I.請回答下列問題:
(1)在時間t內射到照相底片P上的離子的數(shù)目為多少?
(2)單位時間穿過入口處S1離子束流的能量為多少?
(3)試證明這種離子的質量為m=
qB28U
a2

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質譜儀是一種測定帶電粒子質量和分析同位素的重要工具,它的構造原理如圖所示,離子源S產(chǎn)生的各種不同正離子束(速度可看作為零),經(jīng)加速電場加速后垂直進入有界勻強磁場,到達記錄它的照相底片P上,設離子在P上的位置到入口處S1的距離為x,則下列判斷正確的是( 。

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質譜儀是一種測定帶電粒子質量或分析同位素的重要設備,它的構造原理如圖所示.離子源S產(chǎn)生的各種不同正離子束(速度可視為零),經(jīng)MN間的加速電壓U加速后從小孔S1垂直于磁感線進入勻強磁場,運轉半周后到達照相底片上的P點.設P到S1的距離為x,則( 。

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精英家教網(wǎng)質譜儀是一種測定帶電粒子質量和分析同位素的重要工具,它的構造原理如圖所示,離子源S可以發(fā)出各種不同的正離子束,離子從S出來時速度很小,可以看作是靜止的,離子經(jīng)過加速電場加速后垂直進入有界勻強磁場(圖中線框所示),并沿著半圓周運動而到達照像底片上的P點,測得P點到入口處S的距離為x?(  )

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