質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具,它的構(gòu)造原理如圖所示,離子源S可以發(fā)出各種不同的正離子束,離子從S出來時速度很小,可以看作是靜止的,離子經(jīng)過加速電場加速后垂直進入有界勻強磁場(圖中線框所示),并沿著半圓周運動而到達照像底片上的P點,測得P點到入口處S的距離為x?( )

A.?若離子束不是同位素,則x越大,離子質(zhì)量一定越大?
B.?若離子束是同位素,則x越大,而離子質(zhì)量一定越小?
C.?只要x相同,則離子質(zhì)量一定相同?
D.?只要x相同,則離子荷質(zhì)比一定相同
【答案】分析:根據(jù)動能定理求出粒子進入磁場的速度,根據(jù)牛頓第二定律求出軌道半徑,從而得知x與什么因素有關(guān).
解答:解:A、離子在電場加速過程,根據(jù)動能定理得,qU=mv2,得v=
在磁場中做勻速圓周運動,由洛倫茲力提供向心力,則有  qvB=m得,r==.則x=2r=
若離子束不是同位素,q不相同,x越大對應(yīng)的離子質(zhì)量不一定越大.故A錯誤.
B、由上式知,若離子束是同位素,則x越大,而離子質(zhì)量一定越大.故B錯誤.
C、D由上式知,只要x相同,對應(yīng)的離子的比荷一定相等.故C錯誤,D正確.
故選D.
點評:解決本題的關(guān)鍵利用動能定理和牛頓第二定律求出P到S1的距離,從而得出x與電荷的比荷有關(guān).
練習(xí)冊系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目:高中物理 來源: 題型:

質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具,它的構(gòu)造原理如圖所示,離子源S產(chǎn)生的各種不同正離子束(電量為q,速度可看作為零),經(jīng)加速電場電壓U加速后垂直進入有界勻強磁場,到達記錄它的照相底片P上,設(shè)離子在P上的位置到入口處S1的距離為x,不計離子重力,則下列說法正確的是( 。

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質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具.它的構(gòu)造原理如圖所示,離子源S產(chǎn)生帶電量為q的某種正離子,離子射出時的速度很小,可以看作是靜止的,離子經(jīng)過電壓U加速后形成離子束流,然后垂直于磁場方向進入磁感應(yīng)強度為B的勻強磁場,沿著半圓周運動而到達記錄它的照相底片P上.實驗測得:它在P上的位置到入口處S1的距離為a,離子束流的電流為I.請回答下列問題:
(1)在時間t內(nèi)射到照相底片P上的離子的數(shù)目為多少?
(2)單位時間穿過入口處S1離子束流的能量為多少?
(3)試證明這種離子的質(zhì)量為m=
qB28U
a2

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質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具,它的構(gòu)造原理如圖所示,離子源S產(chǎn)生的各種不同正離子束(速度可看作為零),經(jīng)加速電場加速后垂直進入有界勻強磁場,到達記錄它的照相底片P上,設(shè)離子在P上的位置到入口處S1的距離為x,則下列判斷正確的是( 。

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質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量或分析同位素的重要設(shè)備,它的構(gòu)造原理如圖所示.離子源S產(chǎn)生的各種不同正離子束(速度可視為零),經(jīng)MN間的加速電壓U加速后從小孔S1垂直于磁感線進入勻強磁場,運轉(zhuǎn)半周后到達照相底片上的P點.設(shè)P到S1的距離為x,則( 。

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精英家教網(wǎng)質(zhì)譜儀是一種測定帶電粒子質(zhì)量和分析同位素的重要工具,它的構(gòu)造原理如圖所示,離子源S可以發(fā)出各種不同的正離子束,離子從S出來時速度很小,可以看作是靜止的,離子經(jīng)過加速電場加速后垂直進入有界勻強磁場(圖中線框所示),并沿著半圓周運動而到達照像底片上的P點,測得P點到入口處S的距離為x?(  )

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