Question

【題目】圖甲是用光的干涉法來檢查物體平面平整程度的裝置，其中A為標(biāo)準(zhǔn)平板，B為被檢查其平面的物體，C為入射光，圖乙和圖丙分別為兩次觀察到的干涉條紋，下列說法正確的是 。

A.入射光C應(yīng)采用單色光

B.圖示條紋是由A的下表面反射光和B的上表面反射光發(fā)生干涉形成的

C.當(dāng)AB之間某處距離為入射光的半波長奇數(shù)倍時，對應(yīng)條紋是暗條紋

D.若所觀察的條紋是圖乙，被檢查表面上有洞狀凹陷

E.若所觀察的條紋是圖丙，被檢查表面上有溝狀凹陷

Answer 1

【答案】ABE

【解析】

A．入射光C應(yīng)采用單色光，波長一定，不會出現(xiàn)干涉條紋重合，故A正確；

B．薄膜干涉形成的條紋是膜的上下表面的發(fā)射光干涉產(chǎn)生，故B正確；

C．當(dāng)AB之間某處上下反射光的光程差為入射光的半波長奇數(shù)倍時，對應(yīng)條紋是暗條紋，故C錯誤；

D．薄膜干涉是等厚干涉，即明條紋處空氣膜的厚度相等，明條紋右偏說明被檢查表面上有凸起，故D錯誤；

E．薄膜干涉是等厚干涉，即明條紋處空氣膜的厚度相等，明條紋左偏說明被檢查表面上有凹陷，故E正確。

故選ABE。