利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處,下列判斷中正確的是.


  1. A.
    N的上表面A處向上凸起
  2. B.
    N的上表面B處向上凸起
  3. C.
    條紋的cd點對應(yīng)處的薄膜厚度相同
  4. D.
    條紋的d、e點對應(yīng)處的薄膜厚度相同
BC
試題分析：當(dāng)光線垂直入射時，被薄膜上下表面反射的光線的光程差為2ne, 其中2n是常量，厚度e相同的地方，位相差相同，所以C正確；達(dá)到相應(yīng)的厚度，才能得到相應(yīng)級次的條紋，條紋向左邊凸起，表明由于工件凹陷，導(dǎo)致厚度大于空氣膜的正常厚度，反之亦然，所以B正確。故選BC
考點：考查了薄膜干涉的應(yīng)用
點評：關(guān)鍵是理解薄膜干涉的原理，
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科目：高中物理 來源： 題型：

利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度．如圖（a）所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖（b）所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是（　�。�

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科目：高中物理 來源： 題型：

精英家教網(wǎng)利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度．如圖（a）所示，現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層，并用單色光照射，可觀察到如圖（b）所示的干涉條紋，條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處，下列判斷中正確的是（　�。�
A、N的上表面A處向上凸起B、N的上表面B處向上凸起C、條紋的cd點對應(yīng)處的薄膜厚度相同D、條紋的d、e點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

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科目：高中物理 來源：2012-2013學(xué)年新疆烏魯木齊市一中高二下學(xué)期期中考試物理理科（特長班）試卷（帶解析） 題型：單選題

利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處,下列判斷中正確的是(     ).

A．N的上表面A處向上凸起
B．N的上表面B處向上凸起
C．條紋的cd點對應(yīng)處的薄膜厚度相同
D．條紋的d、e點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

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科目：高中物理 來源：2014屆新疆烏魯木齊市高二下學(xué)期期中考試物理理科（特長班）試卷（解析版） 題型：選擇題

利用薄膜干涉可檢查工件表面的平整度.如圖(a)所示,現(xiàn)使透明標(biāo)準(zhǔn)板M和待檢工件N間形成一楔形空氣薄層,并用單色光照射,可觀察到如圖(b)所示的干涉條紋,條紋的彎曲處P和Q對應(yīng)于A和B處,下列判斷中正確的是(     ).

A．N的上表面A處向上凸起

B．N的上表面B處向上凸起

C．條紋的cd點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

D．條紋的d、e點對應(yīng)處的薄膜厚度相同

 

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