分析 先根據(jù)歐姆定律求出電阻阻值,然后由電阻定律求出膜層厚度的表達(dá)式.
解答 解:設(shè)膜層厚度為d.
待測電阻膜的電阻為:R=$\frac{U}{I}$
由電阻定律得:R=ρ$\frac{l}{S}$=ρ$\frac{l}{πDd}$
聯(lián)立解得電阻膜厚度 d=$\frac{ρIl}{πDU}$
答:計(jì)算膜層厚度的公式為d=$\frac{ρIl}{πDU}$.
點(diǎn)評(píng) 對(duì)于實(shí)驗(yàn),關(guān)鍵要理解其實(shí)驗(yàn)原理,要膜層厚度會(huì)影響電阻膜的電阻,從電阻出發(fā)研究.
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A. | 1.74N~22.26N | B. | 1.74N~10.26N | C. | 0N~12N | D. | 0N~22.26N |
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A. | 加速度大小為2m/s2 | B. | 前2s末的速度為8m/s | ||
C. | 前2s內(nèi)的位移為4m | D. | 第2s內(nèi)的平均速度為4m/s |
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A. | 質(zhì)點(diǎn)是一個(gè)理想化的模型,實(shí)際并不存在 | |
B. | 因?yàn)橘|(zhì)點(diǎn)沒有大小,所以與幾何中心的點(diǎn)沒有區(qū)別 | |
C. | 凡是輕小的物體,都可看作質(zhì)點(diǎn) | |
D. | 只有質(zhì)量大、體積小的物體才能看作是質(zhì)點(diǎn) |
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