以坐標(biāo)原點(diǎn)為極點(diǎn)，x軸正半軸為極軸建立極坐標(biāo)系，曲線C1的極坐標(biāo)方程為ρsin＋m＝0，曲線C2的參數(shù)方程為 (0<α<π)，若曲線C1與C2有兩個(gè)不同的交點(diǎn)，則實(shí)數(shù)m的取值范圍是____________．

練習(xí)冊(cè)系列答案
相關(guān)習(xí)題

科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：


已知數(shù)列滿足：，則__________

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：


已知方程和，其中, ，它們所表示的曲線可能是下列圖象中的

A． B． C． D．

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：


在，則的值是（   ）

A．     B．1     C．      D．2

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：


已知平面向量，，不共線，且兩兩之間的夾角都為，若||＝2，||＝2，||＝1，則++與的夾角是___________．

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：


某工廠在試驗(yàn)階段大量生產(chǎn)一種零件，這種零件有、兩項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)需要檢測(cè)，設(shè)各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)達(dá)標(biāo)與否互不影響.若有且僅有一項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)達(dá)標(biāo)的概率為，至少一項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)達(dá)標(biāo)的概率為．按質(zhì)量檢驗(yàn)規(guī)定：兩項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)都達(dá)標(biāo)的零件為合格品．

（Ⅰ）求一個(gè)零件經(jīng)過(guò)檢測(cè)為合格品的概率是多少？

（Ⅱ）任意依次抽取該種零件4個(gè)，設(shè)表示其中合格品的個(gè)數(shù)，求的分布列及數(shù)學(xué)期望．

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：


等差數(shù)列中，，則

   A．8          B．12           C．16            D．24

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：


復(fù)數(shù)m(3＋i)－(2＋i)（m∈R，i為虛數(shù)單位）在復(fù)平面內(nèi)對(duì)應(yīng)的點(diǎn)不可能位于

A．第一象限      B．第二象限      C．第三象限      D．第四象限

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科目：高中數(shù)學(xué) 來(lái)源： 題型：


已知函數(shù).

（Ⅰ）若，求函數(shù)的極值，并指出是極大值還是極小值；

（Ⅱ）若，求證：在區(qū)間上，函數(shù)的圖像在函數(shù)的圖像的下方.

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同步練習(xí)冊(cè)答案