生產(chǎn)甲乙兩種元件,其質(zhì)量按檢測(cè)指標(biāo)劃分為:指標(biāo)大于或者等于82為正品,小于82為次品,現(xiàn)隨機(jī)抽取這兩種元件各100件進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)結(jié)果統(tǒng)計(jì)如下:

測(cè)試指標(biāo)

元件甲

8

12

40

32

8

元件乙

7

18

40

29

6

(1)試分別估計(jì)元件甲、乙為正品的概率;

(2)生產(chǎn)一件元件甲,若是正品可盈利40元,若是次品則虧損5元;生產(chǎn)一件元件乙,若是正品可盈利50元,若是次品則虧損10元。在(1)的前提下;

①記為生產(chǎn)1件甲和1件乙所得的總利潤(rùn),求隨機(jī)變量的分布列和數(shù)學(xué)期望;

②求生產(chǎn)5件元件乙所獲得的利潤(rùn)不少于140元的概率.

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已知等比數(shù)列的各項(xiàng)均為正數(shù),,公比為;等差數(shù)列中,,且的前項(xiàng)和為,

(1)求的通項(xiàng)公式;

(2)設(shè)數(shù)列滿(mǎn)足,求的前項(xiàng)和

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在直角坐標(biāo)系中,直線的參數(shù)方程為為參數(shù)),在極坐標(biāo)系(與直角坐標(biāo)系取相同的長(zhǎng)度單位,且以原點(diǎn)為極點(diǎn),以軸正半軸為極軸)中,圓的方程為.

(1)求圓的直角坐標(biāo)方程;

(2)設(shè)圓與直線交于點(diǎn),若點(diǎn)的直角坐標(biāo)為,求的最小值.

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的圖象向右平移個(gè)單位后,所得圖象的解析式是( )

A.

B.

C.

D.

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選修4-4:坐標(biāo)系與參數(shù)方程

在極坐標(biāo)系中,曲線的極坐標(biāo)方程分別為,.

(1)求曲線的公共點(diǎn)的個(gè)數(shù);

(2)過(guò)極點(diǎn)作動(dòng)直線與曲線相交于點(diǎn),在上取一點(diǎn),使,求點(diǎn)的軌跡,并指出軌跡是什么圖形.

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某幾何體的三視圖如圖所示,則該幾何體的體積為_(kāi)_______.

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設(shè), 滿(mǎn)足約束條件若目標(biāo)函數(shù)的最大值為2,則實(shí)數(shù)的值為

A. B. 1 C. D.

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,則 ,

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